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温度冲击循环变化试验标准与方法
发表时间:2024-01-29 11:08:31
1、温度冲击试验
热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling),高低温冷热冲击试验。
温度冲击试验主要用于确定产品在温度变化(温度冲击)期间和之后受到的影响,即确定产品能否经受其周围大气温度的急剧变化,而不产生物理破坏或功能与性能下降。
 
2、为何要进行温度冲击试验
在电子电器等产品的研制过程中,会因各种原因导致缺陷的发生。如使用了缺陷的元器件、零部件,工艺规定不完善,制造过程的不正确操作和不规范的施工工序等,都会给产品的可靠性带来影响。如果在产品交付前不剔除这些潜在缺陷,最终将导致后期使用的问题暴露。
 
3、温度冲击试验能引发哪些故障
玻璃容器和光学仪器的碎裂;
运动部件的卡紧或松弛;
爆炸物中固态药丸或药柱产生裂纹;
不同材料的收缩或膨胀率、或诱发应变速率不同;
零部件的变形或破裂;
表面涂层开裂;
密封舱泄漏;
绝缘保护失效;
电气和电子元器件的变化;
快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障。
 
4、温度冲击试验的作用与意义
温度冲击试验就是为了剔除元器件、部件的早期失效,暴露设计和制造工艺的不足,使产品的可靠性更接近实际需要,从而保证和提高产品的可靠性。
a.可以模拟受试产品在极端恶劣温度环境下的性能表现;
b.验证受试产品的设计和工艺水平,提前发现和修正缺陷;
c.作为产品筛选手段,尽早发现和剔除因元器件早期失效导致的产品故障;
d.为产品的验收与定型决策提供依据。
 
5、温度冲击试验的类型
根据IEC和国家标准,温度冲击试验分为三种类型:
a.试验Na:规定转换时间的快速温度变化;
b.试验Nb:规定变化速率的温度变化;
c.试验Nc:两液槽法快速温度变化。
其中,第一、二种以空气作为介质,转换时间较长,第三种以液体(水或其它液体)作为介质,转换时间较短。
 
6、温度冲击试验设备
1、两箱法:试验应有两个试验箱,一个低温箱和一个高温箱。两箱的放置应能保证在规定的转移时间内,完成从高温箱到低温箱或从低温箱到高温箱的转换;试验箱的容积和风速能保证样品放入箱内后,在规定的时间(温度稳定时间)内,重新稳定到试验规定的温度容差范围内。对于GB/T 2423,温度稳定时间要求不超过规定保温时间的 10%的时间内;对于GJB150A,温度稳定时间要求不超过5min。
试验箱内的空气是流通的,靠近试验样品测得的空气速度为不超过1.7m/s(GJB150.5A)和不小于2m/s(GB/T 2423.22)。
2、一箱法:  一个试验箱,应同时满足低温箱和高温箱的要求。箱内温度能以试验规定的温度变化速率从低温升到高温,从高温降到低温,试验箱温度能保持在试验规定的高温或低温温度等级值上。 
3、二液槽法:  一个低温槽和一个高温槽。低温槽盛有规定低温的液体,通常为0℃,高温槽盛有规定高温的液体,通常为100℃。二液槽的放置应便于样品的浸入,同时便于从一个槽到另一个槽。

 
7、温度冲击(变化)循环次数和转换时间
循环次数:试验的循环次数根据应用的试验程序及相关规定执行。(源于GB/T2423.22-2012)
对暴露于温度冲击(变化)条件可能性很小的设备,在每种相应的条件下只进行一次温度冲击。当预计设备会比较频繁地暴露于温度冲击环境时,如果没有多少可用的数据用于证实具体的冲击次数,较好的方案是在每种条件下进行3次或3次以上冲击,冲击次数主要由预计的使用事件来决定。(源于GJB150.5A-2009)
 转换时间:当样品暴露于温度极值的持续时间或者等于实际的工作时间,或者等于样品达到温度稳定所用的时间时,转换时间应尽可能短,最长不超过1min。
两箱法的情况下,若试验件尺寸大,转换时间大于3min,只要不对试验结果产生可观察的影响,可按下式增加转换时间(源于GB/T2423.22-2012):
t2≤0.05ts;t2—转换时间;ts—试验样品的温度稳定时间(应大于60min)
应保证转化时间能反应寿命周期剖面中实际温度冲击的相应时间,转换时间应尽可能短,但若转换时间大于1min,则应证明这些额外的时间是合理的。(源于GJB150.5A-2009)
温度变化速率:温度变化速率取决于材料的热传导特性、热容量、尺寸大小等,在大件样品内部,温度冲击(变化)的幅度比所加的温度变化要小。
 
8、温度冲击试验标准
环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验 N: 温度变化 GB/T2423.22-2012;
环境试验 第 2-14 部分: 试验方法 试验 N: 温度变化 IEC60068-2-14:2009;
道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第 4 部分:气候负荷 GB/T 28046.4-2011;
道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第 4 部分:气候负荷 ISO 16750-4:2006;
通信设备通用规范 GJB 367A-2001 ;
计算机通用规范 GJB 322A-1998;
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009;
装备实验室环境试验方法 第 5 部分:温度冲击试验 GJB 150.5A-2009;
技术侦察装备通用技术要求 第 7 部分:环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006;
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005;
地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008。