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AEC-Q104车用多芯片模块可靠性测试
发表时间:2023-10-09 10:43:43
AEC-Q104认证主要针对车用多芯片模块可靠性测试,是AEC-Q系列家族成员中较新的汽车电子规范。


AEC-Q104上,为了依据MCM在汽车上实际使用环境,为复合式的环境,因此增加顺序试验,验证通过的难度变高。例如,必须先执行完High Temp Operating Life(HTOL),才能做Thermal Shock(TS),颠倒过来就不行。AEC-Q104中针对MCM,增加H系列的测项;此外,针对零件本身的可靠性测试(Component Level Reliability),也增加了Thermal Shock(TS)及外观检视离子迁移(VISM)。

AEC-Q104规范中,共分为A-H八大系列。其中,一大原则,在于MCM上使用的所有组件,包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身,在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试,包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP);以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200,那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中,依据产品应用,决定验证项目,验证项目会变得比较多。

测试项目分组:
A组:加速环境应力测试(6项)
B组:加速寿命模拟测试(3项)
C组:封装组装完整性测试(8项)
D组:晶圆制造可靠度测试(5项)
E组:电气特性确认测试(10项)
F组:瑕疵筛选监控测试(2项)
G组:空封器件完整性测试(8项)
H组:模块专项测试(7项)

MCM认证测试方法选项


检测项目:


关键电子元器件性能及寿命检测设备


Delta德尔塔仪器专业致力于关键电子元器件性能及寿命检测设备的研发和制造,符合部分车载电子AEC-Q系列标准认证检测设备要求。


系列产品应用于各种插头电源线、电线组件、互连电线组件,器具输入插座、器具输出插座、器具插座,电容器(X电容器、Y电容器),隔离电阻器(跨线电阻),变压器/开关电源用变压器,光电耦合器, 电源开关、继电器, 熔断器、热熔断体、熔断电阻器,电位器、定时器、温控器、限温器、热保护器、电控制器,水位开关,旋转开关,传感器,印制线路板,压敏电阻,电动机, 热敏电阻器等进行机械强度测试,额定电压测试,额定电流测试,分断容量测试,负载特性测试,发热(温升)测试,正常操作测试,寿命可靠性测试,机械耐久性测试等试验项目。


提供电子元器件的检测提供整套测试仪器,可以为各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。