电子元器件可靠性测试是为了评估电子元器件在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。电子元器件可靠性测试项目分为三类：电气性能测试、零部件环境可靠性、零部件机械类可靠性。

电子元器件可靠性测试项目及标准

1、电气性能测试

击穿电压、介电强度

参考标准：ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002

介电常数、介质损耗

参考标准：GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11

体积电阻率、 表面电阻率

参考标准：GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14

耐电压

参考标准：EIA-364-20C

接触电阻

参考标准：EIA-364-06C

绝缘电阻

参考标准：EIA-364-21C

温升

参考标准：EIA-364-70B

2、零部件环境可靠性

盐雾试验

防尘防水试验/IP等级

高温试验

UV紫外光老化试验

冷热冲击试验

快速温度变化试验

交变湿热试验

恒温恒湿试验

气体腐蚀试验

低气压试验

臭氧测试

高压蒸煮（HAST）

氙灯老化/太阳辐射

3、零部件机械类可靠性

跌落试验

振动试验

冲击和撞击试验

插拔力测试

加速寿命试验 HALT/HASS试验

碰撞试验

三综合试验