资讯中心 --- Delta德尔塔仪器

工业和信息化部：

为推动集成电路产业发展，现将《半导体集成电路外形尺寸》等25项国家标准制定计划项目下达你单位，请组织主要起草单位，抓紧落实和实施计划，在标准起草过程中注重反映经济建设和国防建设需求，加强与有关方面的协调，广泛听取意见，保证标准质量和水平，按时完成标准制定任务。

国家标准委
2015年12月29日

《半导体集成电路外形尺寸》等25项国家标准计划项目汇总表
序号	计划编号	项目名称	标准性质	制修订	代替标准号	采用国际标准	项目周期（月）	主管部门	归口单位	起草单位
1	20154238-T-339	半导体集成电路外形尺寸	推荐	修订	GB/T 7092-1993		24	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子技术标准化研究院
2	20154239-T-339	半导体集成电路 DDR3测试方法	推荐	制定			24	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子技术标准化研究院
3	20154250-T-339	半导体集成电路串行NAND型快闪存储器接口规范	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	北京兆易创新科技股份有限公司
4	20154228-T-339	半导体集成电路串行NOR型快闪存储器接口规范	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	北京兆易创新科技股份有限公司
5	20154229-T-339	半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	成都振芯科技股份有限公司
6	20154235-T-339	半导体集成电路电平转换器测试方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	深圳市国微电子有限公司
7	20154236-T-339	半导体集成电路电压调整器测试方法	推荐	修订	GB/T 4377-1996		12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	圣邦微电子（北京）股份有限公司
8	20154240-T-339	半导体集成电路快闪存储器测试方法	推荐	制定			24	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子技术标准化研究院
9	20154227-T-339	半导体集成电路模拟开关测试方法	推荐	修订	GB/T 14028-1992		12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
10	20154246-T-339	半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第55研究所
11	20154243-T-339	半导体芯片产品第2部分：数据交换格式	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第五十八研究所
12	20154241-T-339	半导体芯片产品第3部分：操作、包装和贮存指南	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第十三研究所
13	20154233-T-339	半导体芯片产品第4部分：芯片使用者和供应商要求	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	华天科技（昆山）电子有限公司
14	20154226-T-339	半导体芯片产品第5部分：电学仿真要求	推荐	制定			24	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	北京大学
15	20154232-T-339	半导体芯片产品第6部分：热仿真要求	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	哈尔滨工业大学
16	20154244-T-339	半导体芯片产品第7部分：数据交换的XML格式	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第五十八研究所
17	20154234-T-339	半导体芯片产品第8部分：数据交换的EXPRESS格式	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	清华大学
18	20154237-T-339	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子技术标准化研究院
19	20154231-T-339	集成电路存储器引出端排列	推荐	制定		IEC 61964-1999	12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	工业和信息化部电子第五研究所
20	20154249-T-339	集成电路倒装焊试验方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
21	20154245-T-339	集成电路焊柱阵列试验方法	推荐	制定			24	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第五十八研究所
22	20154230-T-339	数字集成电路输入/输出电气接口模型规范	推荐	制定		IEC TS 62404	12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	工业和信息化部电子第五研究所
23	20154242-T-339	微波电路频率源测试方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第十三研究所
24	20154247-T-339	微波电路压控振荡器测试方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第55研究所
25	20154248-T-339	微波电路噪声源测试方法	推荐	制定			12	工业和信息化部	全国半导体器件标准化技术委员会	中国电子科技集团公司第55研究所

上一条: 国家标准委关于下达《汽车安全玻璃》等20项国家标准制修订计划的通知下一条: 疲劳试验方法与疲劳断裂试验标准汇编

新闻分类

销售热线

0769-83110798

德尔塔邮箱

关于我们

产品中心

资讯中心

联系我们

All-Link